Дефектоскоп Olympus OmniScan MX PA

Многофункциональный дефектоскоп OmniScan MX PA с фазированными решетками.

Фазированные решётки

При использовании метода контроля фазированными решётками генерируется ультразвуковой луч с настраиваемыми углом ввода, фокусным расстоянием и размером фокусного пятна. При этом также можно настроить генерирование луча в разных секторах фазированной решётки. Эти функции открывают целый ряд новых возможностей. Например, можно быстро изменить параметры угла и изменить направление сканирования, не передвигая датчик. Таким образом, эта технология заменяет собой целую гамму датчиков и даже некоторые механические компоненты. При контроле лучом с переменным углом коэффициент обнаружения дефектов, как правило, выше вне зависимости от их ориентации. При этом соотношение сигнал-шум остаётся оптимальным.

Особенности и преимущества фазированных решёток

• Программное управление углом луча, фокальным расстоянием и размером электронного пятна
• Контроль одним маленьким многоэлементным датчиком под разными углами
• Большая гибкость в контроле объектов со сложной геометрией
• Высокоскоростное сканирование без механических приспособлений

Дефектоскоп OmniScan PA (ФР) создан на базе OmniScan UT (УЗ) и позволяет представлять результаты контроля в виде A-скана, B-скана и C-скана.

Полномасштабное секторное сканирование

• Представление данных в реальном времени с объёмной поправкой
• Частота обновления от 20 до 40 Г

Усовершенствованная обработка данных в реальном времени

• Интерполяция данных в реальном времени для улучшения пространственного представления дефектов
• Определяемые пользователем высоко- и низкочастотные фильтры для повышения качества отображения А-скана
• Функция проекции, позволяющая просматривать вертикально расположенный А-скан одновременно с изображением секторной развёртки

Процедуры и параметры калибровки

Все калибровочные процедуры сопровождаются пошаговой настройкой с возможностью перехода вперёд и назад по настройке.

Мастера настройки для групп и законов фокусировки

• Мастер настройки группы позволяет ввести все параметры датчика, объекта контроля и луча и сгенерировать все законы фокусировки за один приё
• Пошаговая настройка помогает не упустить важные параметры
• Интерактивная справка даёт общую информацию о настраиваемых параметрах

Сложные группы

Теперь можно использовать более одного датчика с двумя разными конфигурациями: разные углы разворота, типы сканирования, области контроля и т.п.

Возможные конфигурации для контроля сложными группами

Один датчик с фазированной решёткой из 64 или более элементов и 2 разные группы

• Линейное сканирование на 45º для захвата верхней части с отражением от донной поверхности
• Линейное сканирование на 60º для захвата нижней части

Один датчик с фазированной решёткой из 64 или 128 элементов и 2 разные группы

• Линейное сканирование на 0º с минимальным усилением
• Линейное сканирование на 0º с высоким усилением

Один датчик с фазированной решёткой из 64 или 128 элементов и 3 разные группы

• Линейное сканирование на 45º для захвата верхней части с отражением от донной поверхности
• Линейное сканирование на 60º для захвата нижней части
• Секторное сканирование от 35º до 70º для повышения вероятности обнаружения дефекта

Два датчика с фазированной решёткой из 16 или 64 элементов и 2 разные группы

• Секторное сканирование от 35º до 70º для контроля левой части объекта с отражением от донной поверхности
• Секторное сканирование от 35º до 70º для контроля правой части объекта с отражением от донной поверхности

Модели дефектоскопа OmniScan MX PA на фазированных решетках

• Дефектоскоп OmniScan MX PA 16:16

• Дефектоскоп OmniScan MX PA 16:16M

• Дефектоскоп OmniScan MX PA 16:64M

• Дефектоскоп OmniScan MX PA 32:32

• Дефектоскоп OmniScan MX PA 32:128