Станция периферийного сканирования JTAG DS107/TSI

Тестирующая станция JTAG Technologies JTAG DS107/TSI. JTAG-станции серии DS оснащены контроллерами периферийного сканирования JT 37xx. Каждая станция имеет удобный программный интерфейс, позволяющий разработчику производить создание тестов, отладку, архивацию и выполнение на тестируемом устройстве со следующей диагностикой неисправностей. Станции DS позволяют работать с платами и блоками любой сложности, начиная от одной платы с одним каналом сканирования, заканчивая системами, состоящими из множества плат с мультиплексированными JTAG-каналами.

Существуют три варианта станций: DS1,DS2 и DS3, которые различаются возможностями и производительностью

• DS1. Для разработки и выполнения тестов, использующих периферийное сканирование, включая тест инфраструктуры, межсоединений, памяти, логики и резисторов
• DS2. Для разработки и выполнения тестов, использующих периферийное сканирование, а также приложений для программирования ПЛИС натестируемой плате
• DS3. Для всех применений периферийного сканирования, включая тестирование плат, внутрисистемное программирование ПЛИС и устройств флэш-памяти

Особенности и преимущества

• ​Возможность генерации и исполнения всех возможных приложений периферийного сканирования, основанных на стандартах JTAG: IEEE 1149.1, IEEE 1149.6 и IEEE 1532
• Архивация проектов, включая тестовые последовательности для производства
• Выполнение любых приложений, использующих периферийное сканирование
• Производительность аппаратных средств имеет несколько уровней, в зависимости от требований
• Диагностика дефектов на уровне выводов компонентов
• Первый год технической поддержки включен в стоимость