Главная страница > Радиоизмерительное оборудование > Измерители иммитанса

Измеритель иммитанса АКТАКОМ АМ-3128

Код товара: 57897
Бренд: АКТАКОМ
Страна: Россия
АКТАКОМ
Группа Компаний ПроПриборы официальный дилер компании АКТАКОМ, Россия
Портативный цифровой RLC-метр АКТАКОМ АМ-3128. Прибор оснащен 2,8” двустрочным дисплеем на котором в верхней строке отображаются первичные параметры с 4 ½ разрядностью, а на нижней строке – вторичные. В качестве первичных измеряемых параметров АМ-3128 измеряет и отображает * R – активное электрическое сопротивление *...
Перейти к полному описанию >
В наличии

31,776.00 включая НДС

Добровольная сертификация
Ваш регион: Нижний Новгород
Самовывоз: Промышленная ул., 25
Доставка курьером:
1-4 рабочих дня, от 500 руб.
Бесплатная доставка возможна по согласованию с менеджерами ваших заказов

Портативный цифровой RLC-метр АКТАКОМ АМ-3128.

Прибор оснащен 2,8” двустрочным дисплеем на котором в верхней строке отображаются первичные параметры с 4 ½ разрядностью, а на нижней строке – вторичные.

В качестве первичных измеряемых параметров АМ-3128 измеряет и отображает

  • R – активное электрическое сопротивление
  • Z – модуль полного сопротивления
  • L – индуктивность
  • C – электрическая емкость

Вторичными параметрами являются

  • D – тангенс угла диэлектрических потерь
  • Q – добротность
  • Θ – угол фазового сдвига

LCR метр АКТАКОМ АМ-3128 может проводить измерение на тестовых частотах 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц.

Для различных измерительных задач уровень испытательного сигнала может быть задан равным 0,3 Вскз или 0,6 Вскз.

Среди остальных возможностей АМ-3128 можно выделить наличие следующих функций

  • Выбор эквивалентной схемы измерения: последовательная, параллельная
  • Задание времени измерения: 1 раз/сек (SLOW), 2 раза/сек (MEDIUM), 4 раза/сек (FAST)
  • Выбор схемы измерения: 2-проводная, 4-проводная
  • Наличие возможности открытой и короткозамкнутой калибровки для повышения точности измерения
  • Настраиваемый компаратор
  • Режим относительных измерений
  • Фиксация текущего, минимального, максимального и среднего значения

Области применения

  • Выборочный контроль качества на производственной линии
  • Входной контроль при приёмке партии
  • Тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах
  • Сортировка и отбор компонентов по параметрам
  • Лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании

Измерение емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь D

Частота испытательного сигналаПоддиапазон измеренийОтображаемый диапазонПределы абсолютной погрешности измеренийЭквивалентная схема измерений
CDe*
100, 120 Гц20 мФ4,000 мФ...20,000 мФ±(0,08Cx + 5 е.м.р)±0,0800последовательная
4 мФ400,0 мкФ...3,9999 мФ±(0,02Cx + 3 е.м.р)±0,0200последовательная
400 мкФ40,00 мкФ...399,99 мкФ±(0,006Cx + 2 е.м.р)±0,0060последовательная
40 мкФ4,000 мкФ...39,999 мФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная
4 мкФ400,0 нФ...3,9999 мкФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная или параллельная
400 нФ40,00 нФ...399,99 нФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040параллельная
40 нФ4,000 нФ...39,999 нФ±(0,005Cx + 3 е.м.р)±0,0050параллельная
4 нФ0 пФ...3,999 нФ±(0,015Cx + 5 е.м.р)-параллельная
1 кГц1000 мкФ400,0 мкФ...999,9 мкФ±(0,03Cx + 5 е.м.р)±0,0300последовательная
400 мкФ40,00 мкФ...399,99 мкФ±(0,015Cx + 3 е.м.р)±0,0150последовательная
40 мкФ4,000 мкФ...39,999 мкФ±(0,006Cx + 2 е.м.р)±0,0060последовательная
4 мкФ400,0 нФ...3,9999 мкФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная или параллельная
400 нФ40,00 нФ...399,99 нФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040параллельная
40 нФ4,000 нФ...39,999 нФ±(0,006Cx + 3 е.м.р)±0,0060параллельная
4 нФ400,0 пФ...3,9999 нФ±(0,006Cx + 3 е.м.р)±0,0060параллельная
400 пФ0,0 пФ...399,9 пФ±(0,03Cx + 5 е.м.р)-параллельная
10 кГц100 мкФ40,00 мкФ...100,00 мкФ±(0,04Cx + 5 е.м.р)±0,0400последовательная
40 мкФ4,000 мкФ...39,999 мкФ±(0,02Cx + 3 е.м.р)±0,0200последовательная
4 мкФ400,0 нФ...3,9999 мкФ±(0,006Cx + 2 е.м.р)±0,0060последовательная
400 нФ40,00 нФ...399,99 нФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная
40 нФ4,000 нФ...39,999 нФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная или параллельная
4 нФ400,0 пФ...3,9999 нФ±(0,004Cx + 2 е.м.р)±0,0040параллельная
400 пФ40,00 пФ...399,99 пФ±(0,006Cx + 3 е.м.р)±0,0060параллельная
40 пФ0,00 пФ...39,99 пФ±(0,025Cx + 5 е.м.р)-параллельная
40 кГц100 мкФ40,00 мкФ...100,00 мкФ±(0,06Cx + 5 е.м.р)±0,0600последовательная
40 мкФ4,000 мкФ...39,999 мкФ±(0,04Cx + 3 е.м.р)±0,0400последовательная
4 мкФ400,0 нФ...3,9999 мкФ±(0,01Cx + 2 е.м.р)±0,0100последовательная
400 нФ40,00 нФ...399,99 нФ±(0,006Cx + 2 е.м.р)±0,0060последовательная
40 нФ4,000 нФ...39,999 нФ±(0,006Cx + 2 е.м.р)±0,0060последовательная или параллельная
4 нФ400,0 пФ...3,9999 нФ±(0,006Cx + 2 е.м.р)±0,0060параллельная
400 пФ40,00 пФ...399,99 пФ±(0,01Cx + 3 е.м.р)±0,0100параллельная
40 пФ0,000 пФ...39,999 пФ±(0,03Cx + 5 е.м.р)-параллельная
100 кГц10 мкФ4,000 мкФ...10,000 мкФ±(0,08Cx + 20 е.м.р)±0,0800последовательная
4 мкФ400,0 нФ...3,9999 мкФ±(0,05Cx + 10 е.м.р)±0,050последовательная
400 нФ40,00 нФ...399,99 нФ±(0,015Cx + 5 е.м.р)±0,0150последовательная
40 нФ4,000 нФ...39,999 нФ±(0,01Cx + 2 е.м.р)±0,0100последовательная
4 нФ400,0 пФ...3,999 нФ±(0,01Cx + 2 е.м.р)±0,0100последовательная или параллельная
400 пФ40,00 пФ...399,99 пФ±(0,015Cx + 2 е.м.р)±0,0150параллельная
40 пФ4,000 пФ...39,999 пФ±(0,02Cx + 5 е.м.р)±0,0200параллельная
4 пФ0,000 пФ...3,999 пФ±(0,05Cx + 10 е.м.р)-параллельная
* – погрешность измерений тангенса угла диэлектрических потерь (De) нормируется для D < 0,5. Сх – измеренное значение емкости.

Измерение индуктивности L и добротности Q

Частота испытательного сигналаПоддиапазон измеренийОтображаемый диапазонПределы абсолютной погрешности измеренийЭквивалентная схема измерений
LDe*
100 Гц, 120 Гц1000 Гн400,0 Гн...999,9 Гн±(0,02Lx + 3 е.м.р)±0,0200параллельная
400 Гн40,000 Гн...399,99 Гн±(0,006Lx + 2 е.м.р)±0,0060параллельная
40 Гн4,000 Гн...39,999 Гн±(0,004L + 2 е.м.р)±0,0040параллельная
4 Гн400,0 мГн...3,9999 Гн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная или параллельная
400 мГн40,00 мГн...399,99 мГн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная
40 мГн4,000 мГн...39,999 мГн±(0,006Lx + 3 е.м.р)±0,0060последовательная
4 мГН0 мкГн...3,999 мГн±(0,03Lx + 5 е.м.р)-последовательная
1 кГц100 Гн40,00 Гн...100,00 Гн±(0,02x + 3 е.м.р)±0,0200параллельная
40 Гн4,000 Гн...39,999 Гн±(0,006Lx + 2 е.м.р)±0,0060параллельная
4 Гн
400,0 мГн...3,9999 Гн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040параллельная
400 мГн40,00 мГн...399,99 мГн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная или параллельная
40 мГн4,000 мГн...39,999 мГн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная
4 мГн400,0 мкГн...3,9999 мГн±(0,01Lx + 3 е.м.р)±0,0100последовательная
400 мкГн0,0 мкГн...399,9 мкГн±(0,03Lx + 5 е.м.р)-последовательная
10 кГц1 Гн400,0 мГн...999,9 мГн±(0,015Lx + 3 е.м.р)±0,0150параллельная
400 мГн40,00 мГн...399,99 мГн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040параллельная
40 мГн4,000 мГн...39,999 мГн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная или параллельная
4 мГн400,0 мкГн...3,9999 мГн±(0,004Lx + 2 е.м.р)±0,0040последовательная
400 мкГн40,00 мкГн...399,99 мкГн±(0,008Lx + 3 е.м.р)±0,0080последовательная
40 мкГн0,00 мкГн...39,99 мкГн±(0,03Lx + 5 е.м.р)-последовательная
40 кГц1 Гн400,0 мГн...999,9 мГн±(0,02Lx + 4 е.м.р)±0,0200параллельная
400 мГн40,00 мГн...399,99 мГн±(0,008Lx + 2 е.м.р)±0,0080параллельная
40 мГн4,000 мГн...39,999 мГн±(0,008Lx + 2 е.м.р)±0,0080последовательная или параллельная
4 мГн400,0 мкГн...3,9999 мГн±(0,008Lx + 2 е.м.р)±0,0080последовательная
400 мкГн40,00 мкГн...399,99 мкГн±(0,015Lx + 3 е.м.р)±0,0150последовательная
40 мкГн0,00 мкГн...39,999 мкГн±(0,04Lx + 5 е.м.р)-последовательная
100 кГц100 мГн40,00 мГн...399,99 мГн±(0,025Lx + 2 е.м.р)±0,0250параллельная
40 мГн4,000 мГн...39,999 мГн±(0,015Lx + 2 е.м.р)±0,0150параллельная
4 мГн400,0 мкГн...3,9999 мГн±(0,01Lx + 2 е.м.р)±0,0100последовательная или параллельная
400 мкГн40,00 мкГн...399,99 мкГн±(0,01Lx + 2 е.м.р)±0,0100последовательная
40 мкГн4,000 мкГн...39,999 мкГн±(0,015Lx + 5 е.м.р)±0,0150последовательная
4 мкГн0,000 мкГн...3,999 мкГн±(0,04Lx + 10 е.м.р)-последовательная

* - погрешность измерений добротности (Qе) нормируется для Qx × Dе ≤ 0,25 и вычисляется по формуле: Qе=±(Qx2 × De)/(1±Qx × De). Lх – измеренное значение индуктивности, Qx – измеренное значение добротности.

Измерение активного сопротивления R

Частота испытательного сигнала
Поддиапазон измерений
Отображаемый диапазонПределы абсолютной погрешности измеренийЭквивалентная схема измерений
100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 КГц20 MОм4,000 МОм...20,000 МОм±(0,03Rx + 10 е.м.р)параллельная
4 MОм400,0 кОм...3,9999 МОм±(0,012Rx + 3 е.м.р)
параллельная
400 кОм40,00 кОм...399,99 кОм±(0,003Rx + 3 е.м.р)параллельная
40 кОм4,000 кОм...39,999 кОм±(0,0025Rx + 2 е.м.р)последовательная или параллельная
4 кОм400,0 Ом...3,9999 кОм±(0,0025Rx + 2 е.м.р)последовательная
400 Ом40,00 Ом...399,99 Ом±(0,0025Rx + 2 е.м.р)последовательная
40 Ом4,000 Ом...39,999 Ом±(0,005Rx + 3 е.м.р)последовательная
4 Ом0,4000 Ом...3,9999 Ом±(0,02Rx + 3 е.м.р)последовательная
0,4 Ом0,0000 Ом...0,3999 Ом±(0,04Rx + 3 е.м.р)последовательная
40 кГц20 MОм4,000 МОм...20,000 МОм±(0,07Rx + 41 е.м.р)параллельная
4 MОм400,0 кОм...3,9999 МОм±(0,025Rx + 3 е.м.р)параллельная
400 кОм40,00 кОм...399,99 кОм±(0,01Rx + 4 е.м.р)параллельная
40 кОм4,000 кОм...39,999 кОм±(0,01Rx + 4 е.м.р)последовательная или параллельная
4 кОм400,0 Ом...3,9999 кОм±(0,005Rx + 3 е.м.р)последовательная
400 Ом40,00 Ом...399,99 Ом±(0,005Rx + 3 е.м.р)последовательная
40 Ом4,000 Ом...39,999 Ом±(0,007Rx + 4 е.м.р)последовательная
4 Ом0,4000 Ом...3,9999 Ом±(0,02Rx + 6 е.м.р)последовательная
0,4 Ом0,0000 Ом...0,3999 Ом±(0,05Rx + 10 е.м.р)последовательная
100 кГц20 MОм4,000 МОм...20,000 МОм±(0,09Rx + 20 е.м.р)параллельная
4 MОм400,0 кОм...3,9999 МОм±(0,04Rx + 10 е.м.р)параллельная
400 кОм40,00 кОм...399,99 кОм±(0,015Rx + 4 е.м.р)параллельная
40 кОм4,000 кОм...39,999 кОм±(0,01Rx + 2 е.м.р)параллельная
4 кОм400,0 Ом...3,9999 кОм±(0,007Rx + 2 е.м.р)последовательная или параллельная
400 Ом40,00 Ом...399,99 Ом±(0,007Rx + 2 е.м.р)последовательная
40 Ом4,000 Ом...39,999 Ом±(0,01Rx + 5 е.м.р)последовательная
4 Ом0,4000 Ом...3,9999 Ом±(0,03Rx + 10 е.м.р)последовательная
0,4 Ом0,0000 Ом...0,3999 Ом±(0,07Rx + 20 е.м.р)последовательная
Rх – измеренное значение импеданса.

Измерение импеданса Z и фазового угла Θ

Частота испытательного сигналаПоддиапазон измеренийОтображаемый диапазонПределы абсолютной погрешности измеренийЭквивалентная схема измерений
ZΘ
100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 КГц20 MОм4,000 МОм...20,000 МОм±(0,03Zx + 10 е.м.р)3,4°параллельная
4 MОм400,0 кОм...3,9999 МОм±(0,012Zx + 3 е.м.р)
0,7°параллельная
400 кОм40,00 кОм...399,99 кОм±(0,003Zx + 3 е.м.р)0,2°параллельная
40 кОм4,000 кОм...39,999 кОм±(0,0025Zx + 2 е.м.р)0,1°последовательная или параллельная
4 кОм400,0 Ом...3,9999 кОм±(0,0025Zx + 2 е.м.р)0,1°последовательная
400 Ом40,00 Ом...399,99 Ом±(0,0025Zx + 2 е.м.р)0.1°последовательная
40 Ом4,000 Ом...39,999 Ом±(0,005Zx + 3 е.м.р)0,3°последовательная
4 Ом0,4000 Ом...3,9999 Ом±(0,02Zx + 3 е.м.р)1,1°последовательная
0,4 Ом0,0000 Ом...0,3999 Ом±(0,04Zx + 3 е.м.р)-последовательная
40 кГц20 MОм4,000 МОм...20,000 МОм±(0,07Zx + 41 е.м.р)4,0°параллельная
4 MОм400,0 кОм...3,9999 МОм±(0,025Zx + 3 е.м.р)1,4°параллельная
400 кОм40,00 кОм...399,99 кОм±(0,01Zx + 4 е.м.р)0,6°параллельная
40 кОм4,000 кОм...39,999 кОм±(0,01Zx + 4 е.м.р)0,6°последовательная или параллельная
4 кОм400,0 Ом...3,9999 кОм±(0,005Zx + 3 е.м.р)0,3°последовательная
400 Ом40,00 Ом...399,99 Ом±(0,005Zx + 3 е.м.р)0,3°последовательная
40 Ом4,000 Ом...39,999 Ом±(0,007Zx + 4 е.м.р)0,4°последовательная
4 Ом0,4000 Ом...3,9999 Ом±(0,02Zx + 6 е.м.р)1,1°последовательная
0,4 Ом0,0000 Ом...0,3999 Ом±(0,05Zx + 10 е.м.р)-последовательная
100 кГц20 MОм4,000 МОм...20,000 МОм±(0,09Zx + 20 е.м.р)5,2°параллельная
4 MОм400,0 кОм...3,9999 МОм±(0,04Zx + 10 е.м.р)2,3°параллельная
400 кОм40,00 кОм...399,99 кОм±(0,015Zx + 4 е.м.р)0,9°параллельная
40 кОм4,000 кОм...39,999 кОм±(0,01Zx + 2 е.м.р)0,6°параллельная
4 кОм400,0 Ом...3,9999 кОм±(0,007Zx + 2 е.м.р)0,4°последовательная или параллельная
400 Ом40,00 Ом...399,99 Ом±(0,007Zx + 2 е.м.р)0,4°последовательная
40 Ом4,000 Ом...39,999 Ом±(0,01Zx + 5 е.м.р)0,6°последовательная
4 Ом0,4000 Ом...3,9999 Ом±(0,03Zx + 10 е.м.р)1,7°последовательная
0,4 Ом0,0000 Ом...0,3999 Ом±(0,07Zx + 20 е.м.р)-последовательная
Zх – измеренное значение импеданса.

Дисплей2,8" LCD TFT, 4 1/2 разряда (первичный параметр)
Питаниебатарея литиевая, 5В, 2600 мАч
Разъем мини-USBдля зарядки и соединения с ПК
Условия эксплуатациитемпература окружающего воздуха0...40 °С
относительная влажность при 40 °С15…85 %
Габаритные размеры190x90x41 мм
Масса400 г
  • Измеритель RLC
  • Адаптер питания
  • Кабель mini-USB
  • Измерительные кабели "банан" - "крокодил" (красный/черный) - 1 комплект
  • Калибровочная пластина
  • Руководство по эксплуатации
  • Гарантийный талон
  • Упаковка