Рентгеновская пленка для неразрушающей дефектоскопии Fujifilm IX150

Рентгеновская пленка для неразрушающей дефектоскопии Fujifilm IX150.

Рентгеновская пленка для стабильно высокого качества для неразрушающего контроля.
В промышленной рентгеновской пленке Fujifilm (пленка IX) используется новая революционная технология. Сочетание новейшей технологии производства эмульсий и компьютеризированного производственного процесса обеспечивает стабильную производительность партий, оптимальное качество изображения и совместимость со всеми химическими веществами для неразрушающего контроля, а также условия ручной / автоматической обработки. Пленка IX включает в себя уникальные технологии скорости и зернистости, которые позволяют использовать ее в широком спектре применений со стабильным высоким качеством, независимо от исследуемого материала и источника излучения.

Области применения

• Тяжелые стальные детали различной толщины
• Стальной железобетон
• Экспозиции с низким значением изотопов кюри и маломощным рентгеновским излучением

Особенности и преимущества

Высокоскоростная пленка класса III ASTM с мелкозернистыми частицами подходит для дефектоскопии большого количества объектов с использованием низковольтных источников рентгеновского излучения и гамма-излучения. Это особенно полезно, когда источники гамма-излучения с высокой активностью недоступны, или когда необходима дефектоскопия образцов большой толщины. Как правило, пленка IX150 используется в методах непосредственной экспозиции или со свинцовыми экранами.

Доступный тип упаковки

• Полотно
• Перемежающийся, неперемежающийся, Envelopak+Pb

*1 Скорость по сравнению с типом IX100 в стандартной комплектации 100
*2 Классификация основана на рекомендованных компанией Fujifilm условиях обработки