Профилометр Nanovea ST400

С большим столом 150х150мм и регулируемым по высоте клиренсом до 200 мм, профилометр ST400 идеально подходит для широкого спектра образцов с различной геометрией. С помощью оптического видеозума, измерение шероховатости может быть выполнено в точно выбранных местах. Интеграция с атомно-силовым микроскопом расширяет возможности 3D в субнанометровом диапазоне, включая боковое направление, которое не является достижимым с любой другой оптикой.

Современное программное обеспечение позволяет легко выбрать зоны, которые будут автоматически измеряться профилометром или с помощью атомно-силовой микроскопии. Параметры контроля качества доступны для автоматизации, например распознавание образов изображений, связи базы данных, макросы для автоматического тестирования. Линейные конфокальные хроматические датчики позволяют обеспечить скорость до 200 раз быстрее, чем обычный точечный датчик.