Система двустороннего контроля стекла Optris Top Down GIS 640 R. ИК система контроля для измерений температуры при закалке листового стекла.
Данная компактная система идеально подходит для контроля производства листового стекла и может использоваться для управления технологическим процессом в установках для закалки стекла.
Особенности и преимущества
- ИК система, с дополнительным эталонным пирометром расположенным снизу, для автоматической коррекции коэффициента излучения обычного и низкоэмиссионного стекла
- Система защиты линз с цифровым управлением позволяет избежать дополнительной продувки воздухом
- Автоматический расчет области сканирования
- Система поставляется в предварительной сборке для более легкой установки на печь для закалки стекла
- Автоматическая настройки линии сканирования, нечувствительность к искажениям