Масс-спектрометрическая система Люмэкс Lumas SOLID для анализа твердофазных образцов

Масс-спектрометрическая система Люмэкс Lumas SOLID для прямого анализа твердофазных образцов.

Lumas SOLID – Специализированная система, предназначенная для прямого анализа твердофазных материалов методом масс-спектрометрии. Система позволяет проводить элементный и изотопный анализ образцов, в том числе профилирование по глубине (послойный анализ). Lumas SOLID – универсальный инструмент для решения задач современного материаловедения. Система основана на базе отечественного времяпролетного масс-спектрометра Люмас ИТР 301, включенного в государственный реестр средств измерений. Сертификат об утверждении типа средств измерений № 88916-23 от 24.04.2023.

Принцип действия. Распыление и ионизация пробы происходят в плазме импульсного тлеющего разряда, затем ионы регистрируются в ортогональном времяпролетном масс-анализаторе. Основным механзмом ионизации атомов пробы является неселективная Пеннинговская ионизация метастабильными атомами разрядного газа (обычно Ar). В качестве разрядной ячейки используется комбинированный полый катод – вспомогательный цилиндрический катод из высокочистого металла (обычно Al или Ta) и прижимаемая к нему проба. Такая конструкция позволяет анализировать плоские (монолитные или прессованные порошковые) пробы без каких-либо требований к их вакуумной плотности. Отсутствует процедура растворения пробы.

Особенности и преимущества

• Прямой анализ твердофазных образцов без растворения
• Монолитные и порошковые пробы
• Определение любых химических элементов (в т.ч. F, O, N, Cl, U, Th, РЗЭ)
• Одновременное определение микропримесей и основных компонентов
• Элементный и изотопный анализ
• Профилирование по глубине
• Низкие пределы обнаружения
• Отсутствие перегрева пробы

Области применения

• Научные исследования
• Материаловедение
• Металлургия
• Геология
• Атомная промышленность
• Экология

Элементный анализ твердых образцов

• Контроль микропримесей в сверхчистых материалах (металлы, сплавы, полупроводники, оптические кристаллы)
• Анализ геологических объектов (руда, почва)
• Определение относительного содержания элементов (U/Th, РЗЭ)
• Изотопный анализ
• Послойный анализ
  • Контроль качества многослойных покрытий и тонких пленок
  • Контроль пространственного распределения примесей
  • Исследование процессов коррозии