Приставка горизонтального типа Инфраспек МНПВО36

Приставка горизонтального типа Инфраспек МНПВО36.

Приставки представляют собой дополнительные модули, которые устанавливаются в кюветное отделение ИК фурье-спектрометра ФСМ, изменяя его оптическую схему. Использование оптических приставок расширяет аналитические возможности спектрометра.

Приставка многократного нарушенного полного внутреннего отражения горизонтального типа МНПВО36 предназначена для исследования химического состава жидких сред, мелкодисперсных неабразивных порошков и полимерных пленок. Метод многократного нарушенного полного внутреннего отражения позволяет существенно упростить подготовку образцов и может использоваться для реализации экспресс-методик контроля качества продукции. Оптическая схема приставки включает два плоских зеркала, одно из которых направляет поток ИК излучения на входную грань призмы МНПВО, другое – принимает излучение с выходной грани призмы и направляет его на выходное сферическое зеркало камеры кювет.

Призма МНПВО закреплена в держателе. Края держателя и верхняя грань призмы формируют ванночку, предназначенную для размещения образцов. Держатель с призмой размещаются в фиксирующем углублении на верхней поверхности основания приставки. Приставки МНПВО36 успешно заменяет кюветы и приспособления, применяемые для проведения анализа жидких, полужидких и твердых веществ. Приставка многократного нарушенного полного внутреннего отражения подходит как для качественного, так и для количественного анализа. Подготовка пробы сводится к размещению образца на кристалле призмы. Способ нанесения образца зависит от его вязкости.

Например, жидкости с низкой вязкостью Прижим для призмы МНПВО удобно наносить с помощью пипетки. Полимерные образцы механически прижимают к поверхности призмы. В качестве спектра сравнения используется спектр «чистой» призмы, т.е. сначала снимают спектр при отсутствии образца. Чтобы наблюдалось полное внутреннее отражение, материал призмы должен иметь более высокий коэффициент преломления, чем образец. Наиболее часто используются ZnSe, KRS-5, Ge, Si.

• До 7 внутренних отражений для максимальной чувствительности при низкой концентрации компонент
• Материал кристалла призмы в стандартной комплектации — ZnSe. Возможны другие варианты — призма из Ge или Si
• Эффективная толщина поглощающего слоя в зависимости от материала и параметров призмы может быть выбрана в пределах 1–50 мкм
• Высокая точность воспроизведения эффективной толщины поглощающего слоя
• Время получения спектра, включая помещение образца, при стандартных требованиях к разрешению и фотометрической точности не превышает 1–2 мин
• Прижимное устройство позволяет осуществлять прижим порошков и пленок к поверхности призмы
• Простота пробоподготовки. Исследуемый образец (жидкость, мелкодисперсный порошок) достаточно поместить в ванночку, дно которой образовано призмой МНПВО Полимерные образцы механически прижимают к поверхности призмы
• Эффективная толщина поглощающего слоя воспроизводится с высокой точностью, в отличие от толщины оптических кювет, так как определяется только материалом и параметрами призмы МНПВО и коэффициентом преломления исследуемого вещества
• Приспособления МНПВО в процессе подготовки и измерений не требуют сборки-разборки, не содержат труднодоступных полостей, которые могли бы затруднять промывку