Приставка диффузного отражения Инфраспек ПДО

Приставка диффузного отражения Инфраспек ПДО.

Приставка предназначена для измерения спектров диффузного отражения рассеивающих поверхностей и дисперсных образцов в средней и ближней инфракрасной области спектра совместно с ИК фурье-спектрометрами ФСМ.

Спектры диффузного отражения исследуемых образцов измеряются относительно подходящего непоглощающего образца сравнения. Условия измерений стремятся подобрать таким образом, чтобы минимизировать зеркальную составляющую отражения. В большинстве случаев это достигается путем смешивания исследуемого вещества с порошком непоглощающего материала, такого как KBr, играющего роль непоглощающей матрицы. Таким образом, исключается необходимость в трудоемкой пробоподготовки, связанной с изготовлением таблеток. Некоторые образцы можно исследовать даже без разбавления, особенно в случаях, когда требуется определить наличие примесей.

Для размещения исследуемых проб или образца сравнения в приставке используется выдвижной держатель образцов с тремя съемными контейнерами. Положение держателя можно плавно регулировать по вертикали с помощью микрометрического винта, расположенного на верхней крышке приставки. По горизонтали держатель образцов перемещается вдоль направляющей, на которой он установлен. Конструкция направляющей имеет устройство, позволяющее фиксировать держатель в одном из трех рабочих положений, когда какой-либо из контейнеров занимает место в оптическом фокусе.

ИК фурье-спектроскопия диффузного отражения является эффективным аналитическим методом, позволяющим проводить качественные и количественные исследования образцов различной структуры. Метод позволяет исследовать объемные образцы, порошки, измельченные и волокнистые материалы и т.п. Отмеченные достоинства в сочетании с высокой чувствительностью метода позволяют широко применять ИК фурье-спектроскопию диффузного отражения при решении прикладных задач аналитической химии.

• Минимальные требования к пробоподготовке или ее отсутствие
• Возможность исследования сильно поглощающих материалов
• Возможность исследования нерегулярных поверхностей или покрытий, в том числе полимерных
• Возможность получения спектров в широком диапазоне концентраций исследуемого вещества