Приставка зеркального отражения Инфраспек ПЗО80.
Приставки представляют собой дополнительные модули, которые устанавливаются в кюветное отделение ИК фурье-спектрометра ФСМ, изменяя его оптическую схему. Использование оптических приставок расширяет аналитические возможности спектрометра.
Приставка со «скользящим» углом падения луча 80 °С применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв. Для очень тонких покрытий спектральные измерения методом «скользящего» угла являются более чувствительными, чем измерения при углах падения, близких к нормальному. Это связано с увеличением длины пути луча через покрытие при увеличении угла падения.
Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется в комплекте для базового измерения и настройки приставки.
Особенности и преимущества- Измерение отраженного излучения методом «скользящего угла»
- Фиксированные уголы падения 80 °С
- Простота установки в прибор
- Отсутствие пробоподготовки
- Удобное расположение образца