Приставка зеркального отражения Инфраспек ПЗО30

Приставка зеркального отражения Инфраспек ПЗО30.

Приставки представляют собой дополнительные модули, которые устанавливаются в кюветное отделение ИК фурье-спектрометра ФСМ, изменяя его оптическую схему. Использование оптических приставок расширяет аналитические возможности спектрометра.

Приставки зеркального отражения ПЗО30 и ПЗО45 предназначены для рутинных измерений образцов, имеющих покрытие в микронном диапазоне для идентификации покрытий и определения их толщины. Зеркальное отражение, полученное для сравнительно тонких пленок на отражающей подложке и измеренное для угла падения, близкого к нормальному, обычно является высокоточным и дает спектры, очень похожие на спектры пропускания.

Приставка устанавливается в кюветное отделение спектрометра ФСМ. Образец размещается на верхней наружной стороне приставки исследуемой поверхностью вниз. Система зеркал приставки направляет пучок ИК-излучения на поверхность образца и передает отраженные этой поверхностью лучи на детектор спектрометра. Программа FSpec обрабатывает результаты. Зеркало сравнения поставляется в комплекте для базового измерения и настройки приставки.

Зеркальное отражение это идеальный метод для исследования тонких пленок материалов, нанесенных на отражающие поверхности. Он обеспечивает неразрушающий контроль поверхностей и покрытий без пробоподготовки. Спектр зеркального отражения может быть использован для идентификации образца, контроля качества покрытий, анализа монослоев и измерения толщины пленок. Методом зеркального отражения при углах падения, близких к нормальному (от 10 °С до 60 °С), как правило, анализируются покрытия с диапазоном толщин 0,5-20 мкм.

• Измерение отраженного излучения для угла падения, близкого к нормальному
• Фиксированные уголы падения 30-45 °С
• Простота установки в прибор
• Отсутствие пробоподготовки
• Удобное расположение образца