Электрометр Keithley 6430

Высокоомные/слаботочные электрометры Keithley 6430.

Возможность выбора из трёх вариантов чувствительности для прецизионных измерений больших сопротивлений и малых токов. 5,5-разрядные электрометры моделей 6514 и 6517B обеспечивают чувствительность 1 фА, входной импеданс более 200 ТОм при измерениях напряжения, а также измерения заряда вплоть до 10 фК.

6,5-разрядный субфемтоамперный источник-измеритель SourceMeter SMU с внешним усилителем SMU модели 6430 может использоваться для измерения тока с чувствительностью 1 аА.

Благодаря низкому уровню шума и характеристикам дрейфа этот прибор идеально подходит для исследований одноэлектронных устройств, нанопроводов и нанотрубок с высоким сопротивлением, полимеров, а также для электрохимических исследований.

Чрезвычайно низкий уровень шума (0,4 фА пик-пик для 6430. Более точные измерения чрезвычайно слабых токов при исследовании устройств и материалов.

Измерения сопротивлений до 1016 Ом (6517B). Точное измерение сопротивления для материалов и изоляторов со сверхвысоким сопротивлением.

Внешний предусилитель может быть установлен на источнике сигнала (6430). Возможность прямого или очень короткого подсоединения к источнику сигнала для минимизации влияния источников шума, таких как кабель.

Низкая нагрузка по напряжению. Исключение ошибок, влияющих на точность измерений слабых токов.

Встроенный источник напряжения ±1 кВ с функцией свипирования (6517B). Упрощение процедур измерения утечек, напряжения пробоя и сопротивления, а также объемного (Ом-см) и поверхностного сопротивления (Ом/кв.) для материалов с высоким сопротивлением.

Опциональная камера сопротивлений модели 8009 для измерений объемных и поверхностных сопротивлений образцов материалов (6517B). Защита от контакта с потенциально опасными напряжениями — размыкание вывода камеры автоматически приводит к отключению источника напряжения прибора.

Высокоскоростные измерения сигналов низкого уровня. Ускорение тестирования низкоуровневых компонентов.

Программируемые цифровые вводы-выводы и встроенные интерфейсы. Упрощение создания автоматизированных систем тестирования компонентов.