Главная страница > Микроскопы > Измерительные микроскопы

Измерительный микроскоп Mahr MarSurf WI 50

Код товара: 126605
Бренд: Mahr
Страна: Германия
Mahr
Группа Компаний ПроПриборы официальный дилер компании Mahr, Германия
Объемное 3D-измерение Mahr MarSurf WI 50. Универсальные и универсальные решения для измерения нанометрового диапазона - это то, что отличает MarSurf WI 50. Высокоточные измерительные инструменты для исследований и контроля качества позволяют быстро и просто получать достоверные 3D-показания за несколько простых шагов. Благодаря функции сшивания в формате HD...
Перейти к полному описанию >
В наличии

Цена по запросу

Товар внесён в Госреестр
Ваш регион: Нижний Новгород
Самовывоз: Промышленная ул., 25
Доставка курьером:
1-4 рабочих дня, от 500 руб.
Бесплатная доставка возможна по согласованию с менеджерами ваших заказов

Объемное 3D-измерение Mahr MarSurf WI 50. Универсальные и универсальные решения для измерения нанометрового диапазона - это то, что отличает MarSurf WI 50. Высокоточные измерительные инструменты для исследований и контроля качества позволяют быстро и просто получать достоверные 3D-показания за несколько простых шагов. Благодаря функции сшивания в формате HD MarSurf WI 50 обеспечивает неизменно высокое разрешение даже на больших измерительных площадях. Встроенное обнаружение столкновений обеспечивает пользователям высокий уровень безопасности во всех направлениях - как для заготовки, так и для самого устройства. 

Одним из наших важнейших критериев является превосходная точность, аккуратность, повторяемость, воспроизводимость и документация для обеспечения прослеживаемости и аудита. Нашим самым большим достижением для клиента является количественное измерение, на которое он может положиться в области проектирования, проектирования продуктов и процессов, контроля качества и т. д.

Особенности и преимущества

  • Измерения шероховатости в соответствии с ISO 4287 и ISO 13565/ISO 25178
  • Топографические измерения (в т.ч. объем, износ, трибология)
  • Контур и форма (2D, 3D)
  • Анализ пор, частиц
  • Обнаружение дефектов

Области применения

  • Машиностроение, определение и количественная оценка шероховатости, геометрии и объема износа
  • Проверка электронных и полупроводниковых компонентов в субнанометровом диапазоне для получения бездефектной продукции
  • Медицинская промышленность, обеспечение качества медицинской технической отделки на производстве и в лаборатории
  • Материаловедение, оптимизация функциональных свойств новых поверхностей и изделий
  • Технология микросистем для измерения сложной геометрии поверхности мельчайших деталей с нанометровой точностью
РазрешениеДо 0,2 (нм) по вертикали
Скорость измеренияДо 140 кадров в секунду
Принцип измеренияИнтерферометр белого света
Светодиод высокой мощности (650 нм/белый)

ДругоеОбнаружение столкновений в направлении xyz
ПоказателиISO 4287, ISO 13565, ISO 25178

  • Измеритель
  • Руководство по эксплуатации
  • Гарантийный талон
  • Упаковка